放大成像装置及电子元件检测设备
授权
摘要

本实用新型提供一种放大成像装置及电子元件检测设备,涉及电子元件检测设备技术领域,为解决现有技术中对电子元件进行放大观测时,直接利用放大镜片进行人工观测,导致观测精度低,观测效率低的问题而设计。本实用新型提供的放大成像装置,包括放大镜头、载物台、光电成像仪器以及显示器;载物台用于承载待成像元件,放大镜头安装于光电成像仪器的输入端,放大镜头朝向待成像元件设置,光电成像仪器与显示器电气连接。本实用新型还提供一种电子元件检测设备,包括上述的放大成像装置。

基本信息
专利标题 :
放大成像装置及电子元件检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022063227.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-20
授权号 :
CN213516896U
授权日 :
2021-06-22
发明人 :
范超范炜
申请人 :
重庆金籁科技股份有限公司
申请人地址 :
重庆市丰都县水天坪工业园区
代理机构 :
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 :
涂琪顺
优先权 :
CN202022063227.4
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2021-06-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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