一种米级尺度多光轴平行检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种米级尺度多光轴平行检测装置,涉及光轴检测技术领域,为解决现有技术中的检测方法步骤繁琐,需要简化步骤的问题。所述包括底座,所述底座的下方安装有底座支架,所述底座的上方安装有第一支撑柱,所述第一支撑柱的一侧安装有第三支撑柱,所述第三支撑柱的一侧安装有光管组,所述底座的上方安装有第二支撑柱,所述第二支撑柱的一侧安装有第四支撑柱,所述第四支撑柱的一侧安装有光电传感器,所述底座的上方安装有显示器外壳,所述显示器外壳的外表面设置有按钮。
基本信息
专利标题 :
一种米级尺度多光轴平行检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022086541.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-22
授权号 :
CN213180618U
授权日 :
2021-05-11
发明人 :
李春雷蔡天舒
申请人 :
南京奂美光学科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江宁区诚信大道885号诚信大厦909室
代理机构 :
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 :
宋萍
优先权 :
CN202022086541.4
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02 G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-05-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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