一种电子元器件低温失效定位探头
授权
摘要
一种电子元器件低温失效定位探头，包括定位探头，所述定位探头包括电接头、温度传感器、固定带、加热片与导热垫，所述加热片设置在导热垫上，温度传感器和固定带设置在加热片上，所述电接头分别和温度传感器、加热片电性连接，通过电接头连接到外部电源及开关。本实用新型通过加热片对失效电子产品中的每个电子元器件依次加热到正常工作的温度，加热完毕后检测该电子产品是否恢复功能，排查失效电子产品中的每个电子元器件是否低温失效，不需要对电子元器件进行搭飞线，不会对电子元器件产生损害。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件低温失效定位探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022188629.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-29
授权号 ：
CN214150880U
授权日 ：
2021-09-07
发明人 ：
曾浩然熊承波谭向军
申请人 ：
成都凯天电子股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市青羊区黄田坝西货站路515号
代理机构 ：
成都君合集专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
尹新路
优先权 ：
CN202022188629.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01K7/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-09-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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