一种X射线影像探测器及相应的安检系统
授权
摘要
本公开涉及一种X射线影像探测器及相应的安检系统。该探测器中，第一模数转换模块连接低能探测模块，第二模数转换模块连接高能探测模块，第一模数转换模块与第二模数转换模块分别连接处理模块；第一模数转换模块所在的电路板垂直连接于低能探测模块所在的第一安装电路板，第二模数转换模块所在的电路板垂直连接于高能探测模块所在的第二安装电路板。该探测器不仅减小了宽度，并且低能探测模块与高能探测模块的布局相同，减少了物料种类，便于生产和维护。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线影像探测器及相应的安检系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022227722.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-09
授权号 ：
CN214011091U
授权日 ：
2021-08-20
发明人 ：
崔志立付天坤
申请人 ：
北京纳米维景科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区北清路68号院1号楼一层1-06
代理机构 ：
北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈曦
优先权 ：
CN202022227722.4
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01V5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-08-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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