基于布儒斯特定律的折射率测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了基于布儒斯特定律的折射率测量装置,该装置包括激光发射单元,光电强度探测单元,以及带螺旋测微单元的光具座;所述螺旋测微单元包括螺旋测微标尺,以及手轮式旋钮;所述光具座底端设有滑动轨道,以及滑动设置于该滑动轨道上的载物台;激光发射单元中的激光器固定安装于螺旋测微标尺的零点位置,光电强度探测单元中的探头以可滑动方式安装于螺旋测微标尺上,旋转手轮式旋钮即对探头位置进行微调;激光器、探头、载物台的相对位置应保证:激光器的出射偏振光入射到待测介质的反射面并被反射,且反射光被探头接收。本实用新型将角度测量转化为长度测量,实现了距离连续变化,测量更精确;且不局限于光学玻璃的折射率测量。

基本信息
专利标题 :
基于布儒斯特定律的折射率测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022250974.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-12
授权号 :
CN213689384U
授权日 :
2021-07-13
发明人 :
董锡杰曹尚文徐嘉璐谭昕旸贺臣
申请人 :
武汉科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市青山区和平大道947号
代理机构 :
武汉领君知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
汪俊锋
优先权 :
CN202022250974.9
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2021-07-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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