一种薄膜热电材料性能参数测试装置及系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种用于薄膜热电材料性能参数测试的装置及系统，用于解决传统热电性能参数测试方法操作复杂、测试速度慢、测试精确度低、并难以满足大量薄膜热电材料性能参数的快速简易测试的问题，所述装置包括：自下而上设置的基础温度控制单元和温度差控制单元；所述基础温度控制单元用于控制待测样品所处的基础温度；所述温度差控制单元用于控制所述待测样品两端的温度差。本实用新型提供的技术方案能够简便、快速、精确地测试薄膜热电材料热电性能参数且能够自动处理的薄膜热电材料热电性能参数。

基本信息

专利标题：

一种薄膜热电材料性能参数测试装置及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022270079.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-13

授权号：

CN213337417U

授权日：

2021-06-01

发明人：

狄重安金文龙赵文瑞邹业张凤娇孟青代小娟朱道本

申请人：

中国科学院化学研究所

申请人地址：

北京市海淀区中关村北1街中国科学院化学研究所

代理机构：

北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

姚东华

优先权：

CN202022270079.3

主分类号：

G01N25/20

IPC分类号：

G01N25/20 G01N27/04