一种芯片熔丝装置
授权
摘要
本实用新型提出一种芯片熔丝装置，包含：EEPROM，测试代码读取电路，测试代码比较电路，金属层选择电路和测试使能输出电路。使用本实用新型的有益效果是，可代替需要放置在芯片切割道中的传统熔丝电路，可以有效缩小芯片切割道的宽度，提升一片晶圆上的芯片产量，也可以在通过生产测试的芯片在使用中出现问题时，经过一次简单的聚焦离子束分析(FIB)即可重新进入测试模式，方便对问题进行定位。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片熔丝装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022301602.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-16
授权号 ：
CN213042667U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
张建伟
申请人 ：
上海明矽微电子有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022301602.4
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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