芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置
授权
摘要
本发明提供一种芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置，该测试方法包括：当应用待测芯片的电子设备第一次开机时，获取待测芯片的电可编程熔丝状态标志位；根据电可编程熔丝状态标志位判断电可编程熔丝是否写入数据；若电可编程熔丝未写数据，发出提醒信号。本发明能够尽早检查出芯片漏写电可编程熔丝的问题。
基本信息
专利标题 ：
芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113284549A
申请号 ：
CN202110544085.X
公开（公告）日 ：
2021-08-20
申请日 ：
2021-05-19
授权号 ：
CN113284549B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
郭远东
申请人 ：
展讯通信（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙峰芳
优先权 ：
CN202110544085.X
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-09-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20210519
申请日 : 20210519
2021-08-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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