微型线圈用测试治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种微型线圈用测试治具,包括内置容腔的底座,所述底座的上端设有托盘,一侧铰接有能盖合在所述托盘上的上盖。所述托盘上设有用于放置测试载盘的放置槽、用于驱动所述测试载盘转动的一号驱动组件。所述测试载盘沿其周向上设置有若干用于放置微型线圈的测试槽,所述放置槽内穿设有受二号驱动组件驱动能插入到任一所述测试槽内的测试探针。本实用新型的测试治具不仅能有效屏蔽外界干扰,保证测试精度,而且也避免了测试时多次取放产品导致的产品破损问题。

基本信息
专利标题 :
微型线圈用测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022319036.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-16
授权号 :
CN213457152U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
敖璇
申请人 :
苏州爱普拉斯微电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州高新区火炬路57号35幢
代理机构 :
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
顾品荧
优先权 :
CN202022319036.X
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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