一种近红外波段超材料折射率传感器
授权
摘要
本实用新型公开了一种近红外波段超材料折射率传感器，该结构包括两层，上层包括周期性排布的硅闭口环谐振器，下层是基底，材料为二氧化硅。当入射光以横电模式垂直入射时，准连续域束缚态由于不满足共振态正交条件因而可以被入射波所激发，而共振态的品质因数同连续域束缚态一样可以得到极大的提高，高达104，本实用新型折射率传感器工作在近红外区域，具有结构简单、易于集成的优点。所述背景折射率传感器具有较高的折射率传感灵敏度，使之在生化检测领域显现出潜在应用价值。
基本信息
专利标题 ：
一种近红外波段超材料折射率传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022334058.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-20
授权号 ：
CN214277897U
授权日 ：
2021-09-24
发明人 ：
岑文洋郎婷婷张锦晖王钢棋
申请人 ：
中国计量大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市学源街258号中国计量大学
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022334058.3
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2021-09-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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