一种光谱仪的分光光学结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种光谱仪的分光光学结构，包括入射光组件、设于所述入射光组件正下方的分光片、设于所述分光片的第一侧的反射镜、依次设于所述分光片的第二侧的第一光栅、第二光栅及探测器、以及物镜组件；所述分光片向所述反射镜倾斜设置，所述分光片用于将入射光组件中光源分为第一光源及第二光源；所述第一光源依次经所述反射镜、物镜组件、第一光栅及物镜组件反射至所述探测器上；所述第二光源依次经所述物镜组件、第二光栅及物镜组件反射至所述探测器上。实施本实用新型，可得到大范围、高分辨率的光谱，且成本低廉。
基本信息
专利标题 ：
一种光谱仪的分光光学结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022405696.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-23
授权号 ：
CN214066342U
授权日 ：
2021-08-27
发明人 ：
钟土基
申请人 ：
佛山市双耀科技有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区狮山镇罗村广东新光源产业基地核心区内A区12座二楼之四工业厂房（住所申报）
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
胡枫
优先权 ：
CN202022405696.X
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2021-08-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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