一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路
授权
摘要
本实用新型提出一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路，包括：FPGA芯片、高速低精度采样回路、低速高精度采样回路及触发控制模块；其中，FPGA芯片根据上位机指令启动高速低精度采样回路或低速高精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样；触发控制模块检测采样点输出的电压信号，当检测到采样点的输出信号发生反转时，触发FPGA芯片选通高速低精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样。本实用新型能够基于不同采样需求切换具有不同采样速率的采样回路对采样点进行采样，同时设置触发控制模块对采样点进行电压翻转实时检测，当检测到电压翻转时，快速触发FPGA切换至高速低精度采样回路，从而保证能快速响应翻转点的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022504865.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN214011435U
授权日 ：
2021-08-20
发明人 ：
黄浩李全任
申请人 ：
南京宏泰半导体科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼B2411室
代理机构 ：
北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘珊珊
优先权 ：
CN202022504865.5
主分类号 ：
G01R31/3185
IPC分类号 ：
G01R31/3185 G01R31/3183
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置，例如LSSD，划分
法律状态
2021-08-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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