一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪
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摘要

本实用新型公开了一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,包括底座和阻尼槽,所述底座的底部安装有万向轮,所述底座的上端中部连接有固定套杆,且固定套杆的上端设置有外螺纹头,所述外螺纹头的中部开设有开口,且外螺纹头的外侧连接有内螺纹套,所述外螺纹头的内侧设置有橡胶套,且橡胶套的内侧安置有活动杆,所述活动杆的外侧设置有凸条,且活动杆的上端安装有连接架,所述连接架的侧部连接有紧固盘,且连接架的上端安置有安装板,所述阻尼槽设置于安装板的上端外侧,所述阻尼槽的上端通过连接栓安装有光学干涉仪。该可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪设置有活动安装的安装板,方便该测量仪的角度调节和转动。

基本信息
专利标题 :
一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022505849.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-03
授权号 :
CN213579149U
授权日 :
2021-06-29
发明人 :
戴志平刘金汝陈湘涛
申请人 :
衡阳师范学院
申请人地址 :
湖南省衡阳市雁峰区黄白路165号
代理机构 :
广东有知猫知识产权代理有限公司
代理人 :
李志海
优先权 :
CN202022505849.8
主分类号 :
G01B9/02
IPC分类号 :
G01B9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2021-06-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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