一种双头两点式断差测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种双头两点式断差测量装置,比对校块可在平台上平行推移,立柱垂直固定在地面平台上;主体呈直角型,一侧设有安装座;所述主体一端通过定位销与连接杆紧密配合,连接杆另一端套接在立柱上,通过锁紧螺丝锁紧;高度调节螺杆一端固定在主体上,另一端用于在不测量的静止状态支撑主体的高度,使主体与地面平台接近平行;安装座上端用于连接千分高度表,且千分高度表上设有高度表显示屏和高度表测头;主体设有合金测头,与地面平台接近平行,且高度表测头与合金测头垂直设置;比对校块应与被测量工件高度接近相等。本实用新型精密度高,批量测量速度快。

基本信息
专利标题 :
一种双头两点式断差测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022507625.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-03
授权号 :
CN213067382U
授权日 :
2021-04-27
发明人 :
杨宪赵伟伟赵梓程王世芳
申请人 :
丹东临港产业园区和本精密机械有限公司
申请人地址 :
辽宁省丹东市乐业路15-4号
代理机构 :
沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
孙奇
优先权 :
CN202022507625.0
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-04-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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