一种测量装置和测量系统

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摘要

本实用新型公开一种测量装置和测量系统，涉及测量技术领域，以解决闸片中摩擦体厚度测量精度低的问题。所述测量装置，应用于厚度测量。该测量装置包括：支撑结构、移动结构和测量结构。测量装置处于组装状态时，移动结构设置在支撑结构上；测量结构设置在移动结构上。测量装置处在测量状态时，移动结构带动所述测量结构在第一方向和第二方向移动，测量结构在第三方向移动。所述测量系统包括上述技术方案所提的测量装置。本实用新型提供的测量装置用于厚度测量。

基本信息

专利标题：

一种测量装置和测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020828809.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-18

授权号：

CN211876922U

授权日：

2020-11-06

发明人：

钟梓云付冉聂广远胡绍磊于敬洋

申请人：

北京浦然轨道交通科技股份有限公司;山东菏泽德通新材料科技有限公司

申请人地址：

北京市昌平区科技园区超前路37号院16号楼2层C1042号

代理机构：

北京知迪知识产权代理有限公司

代理人：

何丽娜

优先权：

CN202020828809.4

主分类号：

G01B5/06

IPC分类号：

G01B5/06 G01B5/00 G01N3/56 G01N3/04