用于对准光轴的框架部件以及激光聚焦仪器
授权
摘要

本实用新型涉及一种用于对准光轴的框架部件。本体具有相对于前端面向内凹入的凹部以及向外突出的沿着本体的周缘间隔开的、限定水平间隔和垂直间隔的突起。框架部件还包括:凹部上的运动部件,该运动部件与凹部的内侧壁之间具有调节距离,并包括基部以及从基部突出的指部,指部沿着运动部件的周缘间隔开,并限定指部的水平间隔和垂直间隔;安装在本体中的具有第一肩部和第一颈部的第一驱动部件,第一肩部装配在指部的水平间隔内且第一颈部装配在突起的垂直间隔内;以及联接于第一驱动部件以调节第一驱动部件在突起的水平间隔或垂直间隔内的运动的第一调节元件。本实用新型还涉及一种包括上述框架部件以使光学部件对准光轴的激光聚焦仪器。

基本信息
专利标题 :
用于对准光轴的框架部件以及激光聚焦仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022525827.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-04
授权号 :
CN214375602U
授权日 :
2021-10-08
发明人 :
林志威郑国民郭小娴
申请人 :
赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区秦桥路211号T71-6幢第一、二层东侧
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
朱立鸣
优先权 :
CN202022525827.8
主分类号 :
G02B27/36
IPC分类号 :
G02B27/36  C12M1/34  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
G02B27/32
在光学系统内的基准标记和测量度盘
G02B27/36
可调的
法律状态
2021-10-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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