用于校准测量系统的校准工具和生产用于轮胎制造的条带的条带...
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摘要
本实用新型涉及一种用于校准测量系统的校准工具，其中，所述校准工具包括带有一个或多个校准元件的校准区段和带有一个或多个验证元件的验证区段，其中，所述校准工具可绕着倒置轴线在校准位置与验证位置之间倒置，其中，当绕着所述倒置轴线倒置时，所述校准区段和所述验证区段交换位置。本实用新型还涉及一种生产用于轮胎制造的条带的条带生产线。
基本信息
专利标题 ：
用于校准测量系统的校准工具和生产用于轮胎制造的条带的条带生产线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022544198.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-07
授权号 ：
CN214426706U
授权日 ：
2021-10-19
发明人 ：
E·G·凯利J·范德弗鲁格特N·蒂伦伯格T·J·韦布鲁根P·比克曼C·J·范沃斯库伦R·努塞尔德G·A·伯格霍斯特T·R·沃拉恩B·科夫德Q·M·伯格曼斯
申请人 ：
VMI荷兰公司
申请人地址 ：
荷兰埃珀
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
忻鸣祥
优先权 ：
CN202022544198.3
主分类号 ：
G01C15/00
IPC分类号 ：
G01C15/00 G01B11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2021-10-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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