用于校准激光三角测量系统的校准工具
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于校准激光三角测量系统的校准工具，其中，该校准工具包括限定参考平面的工具主体，其相对于测量系统可绕垂直于所述参考平面的旋转轴线旋转，其中，该工具主体设置有一个或多个校准表面，校准表面限定校准位置的图案，其中，该图案包括在远离旋转轴线的径向上延伸的至少三列和绕旋转轴线沿周向延伸的至少三排，其中，对于每列，所述相应列内的校准位置相对于参考平面的高度在垂直于所述参考平面的高度方向上有所变化，并且其中，对于每排，相应排内的校准位置的高度相对于所述参考平面在高度方向上有所变化。
基本信息
专利标题 ：
用于校准激光三角测量系统的校准工具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020496698.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-07
授权号 ：
CN212432141U
授权日 ：
2021-01-29
发明人 ：
E·G·凯利J·范德弗鲁格特N·蒂伦伯格T·J·韦布鲁根P·比克曼C·J·范沃斯库伦R·努塞尔德G·A·伯格霍斯特T·R·沃拉恩B·科夫德Q·M·伯格曼斯
申请人 ：
VMI荷兰公司
申请人地址 ：
荷兰埃珀
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
江漪
优先权 ：
CN202020496698.1
主分类号 ：
G01C15/00
IPC分类号 ：
G01C15/00 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2021-01-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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