一种机器视觉光源及光滑高反光表面划痕缺陷检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种机器视觉光源及检测系统，其中一种机器视觉光源包括：至少一个LED单环，所述LED单环包括多个LED灯，所述LED单环的圆心与相机的镜头的中心重合；同一个LED单环上的所述LED灯以相同的入射角将光线投射至待测面，以在所述待测面上形成均匀的光场；所述入射角满足以下条件：在所述待测面为镜面时，所述LED灯投射的光线经所述待测面反射后偏离所述相机的镜头，以在所述相机的视场中形成暗场。本实用新型提供一种新型的机器视觉光源，该机器视觉光源能够提供均匀的光场，且通过设置入射角后，可用于检测光滑高反光类的待测面，可广泛应用于机器视觉检测技术领域。
基本信息
专利标题 ：
一种机器视觉光源及光滑高反光表面划痕缺陷检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202023344276.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-12-31
授权号 ：
CN216350380U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
王耿席宁陈和平
申请人 ：
深圳市智能机器人研究院
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道粤兴二道1号深圳虚拟大学园重点实验室平台大楼A306
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
胡辉
优先权 ：
CN202023344276.1
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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