用于确定多晶产品的材料特性的设备和方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种用于在多晶产品、尤其是金属产品(1)的制造或质量检查期间在使用至少一个伦琴射线源(11)和至少一个伦琴射线探测器(13)的情况下借助伦琴射线衍射确定多晶产品、尤其是金属产品(1)的材料特性的方法和设备。在此，将由伦琴射线源(11)产生的伦琴射线(15)对准多晶产品(1)的表面(2)并且伦琴射线(15)的由此产生的衍射图像(16)由伦琴射线探测器(13)记录。在从伦琴射线源(11)中射出之后，引导伦琴射线(15)穿过伦琴射线镜(17)，其中，穿过伦琴射线镜(17)的伦琴射线(15)不仅发生单色化而且朝向多晶产品(1)和/或伦琴射线探测器(13)聚焦并且随后入射到金属产品(1)的表面(2)上。
基本信息
专利标题 ：
用于确定多晶产品的材料特性的设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114424054A
申请号 ：
CN202080046601.X
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2020-06-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
C·克林肯贝格U·左默斯H·克莱因A·洛斯特O·彭西斯H·克劳塞乌斯
申请人 ：
SMS集团有限公司;IMS麦希斯特米有限责任公司
申请人地址 ：
德国杜塞尔多夫
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
张晔
优先权 ：
CN202080046601.X
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207 G01N23/2055 G01N23/20008 G01N23/20091 B21B38/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/207
申请日 : 20200624
申请日 : 20200624
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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