测试座
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种测试座,包括多个导电部,其设置在对应于待测试元件的端子的位置处,多个导电颗粒在竖直方向上排列及对准于弹性绝缘材料中,以在竖直方向上呈现导电性;以及绝缘部分,其围绕上述导电部配置以支撑每个导电部并使导电部彼此绝缘,其中,每个导电颗粒包括:筒状主体,其在一个方向上长且具有开放的上端及下端以及内部穿透空间;以及突出部,其从上述筒状主体的端部向一个方向突出,其中,导电颗粒的突出部具有能够插入至另一导电颗粒的筒状主体的穿透空间内的大小,使得在检测过程中压缩导电部时,导电颗粒中的突出部卡在另一导电颗粒上且不与另一导电颗粒分离。
基本信息
专利标题 :
测试座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114341652A
申请号 :
CN202080061282.X
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-08-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郑永倍金钟元俞恩智金炯俊
申请人 :
株式会社ISC
申请人地址 :
韩国京畿道城南市
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
吕琳
优先权 :
CN202080061282.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20200828
申请日 : 20200828
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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