一种集成电路测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括箱体,箱体的一侧固定连接有电机,电机的一侧固定连接有螺纹杆,螺纹杆的一侧延伸至箱体的内部并通过轴承与箱体的内壁活动连接,螺纹杆表面的两侧均套设有螺纹管,螺纹管的顶部设置有支撑杆,支撑杆的顶部延伸至箱体的外部并固定连接有连接板,连接板底部的前端和后端均套设活动板,活动板的一侧固定连接有支撑块,支撑块的一侧固定连接有活动块,活动块的表面与连接板的内部滑动连接,活动板的另一侧设置有调节机构,箱体顶部的两侧均固定连接有第一固定杆。本实用新型解决了现有的测试装置不方便对不同规格的集成电路进行固定测试,不方便人们使用,也大大降低了测试效率的问题。
基本信息
专利标题 :
一种集成电路测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202121422476.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-06-24
授权号 :
CN216160768U
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
邓彬
申请人 :
四川卓能智控科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市自由贸易实验区成都高新区天府三街69号1栋22层2213号
代理机构 :
成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
李斌
优先权 :
CN202121422476.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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