一种掀盖式双面下针测试治具
授权
摘要
为了解决检测过程中外部不稳定因素的干扰致使检测结果稳定性降低及人工效率低下，以及芯片测试数据混乱无序、可追溯性差的问题，本实用新型提出一种掀盖式双面下针测试治具，通过基座、上盖结构、测试夹具、下底板结构、固定支架结构、读码装置、凸轮轴承装置、气弹簧装置相互配合使用，可以准确高效的对芯片进行检测，从而降低生产成本，且测试结果可追溯。
基本信息
专利标题 ：
一种掀盖式双面下针测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121914660.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-16
授权号 ：
CN216160770U
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
鲍建荣
申请人 ：
苏州特斯捷电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区春辉路5号跨春工业坊9F1楼南
代理机构 ：
苏州彰尚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周勤径
优先权 ：
CN202121914660.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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