滤波器双面测试治具
授权
摘要

本申请提供一种滤波器双面测试治具,包括:固定座和支架,固定座包括基座、第一固定件及第二固定件,基座上设置有第一测试孔和第二测试孔,第一测试孔与设置于工件的第一端面上的第一对接头相对应,第二测试孔与设置于工件的第二端面上的第二对接头相对应,第一测试孔和第二测试孔均用于供测试接头的穿设,第一测试孔以及第二测试孔的尺寸与测试接头的尺寸相匹配;第一固定件可拆卸地设置于基座上,第一固定件用于将工件固定于基座上,第一固定件上设置有第一测试孔;第二固定件可拆卸地设置于基座上,第二固定件用于将工件固定于基座上,第二固定件上设置有第二测试孔;支架设置于所述基座的底部以向上支撑固定座。

基本信息
专利标题 :
滤波器双面测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022196691.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-28
授权号 :
CN213457015U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
郁军杨艳召
申请人 :
昆山哈勃电波电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市张浦镇滨江北路100号6号房2层
代理机构 :
深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
魏毅宏
优先权 :
CN202022196691.0
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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