光学装置和方法
公开
摘要
本发明提供了一种高光谱成像装置(100)，包括用于从场景(106)接收光场的入射件(102)、编码器(108)、至少一个色散元件(110、112)、至少一个阵列检测器(114、116)和处理器(118)。编码器(108)被布置为从入射件(102)接收光场的至少一部分并对其进行变换以提供具有不同空间图案的第一编码光场(120)和第二编码光场(122)。至少一个色散元件(110、112)被布置为分别向第一编码光场(120)和第二编码光场(122)施加光谱剪切，以提供第一剪切光场(124)和第二剪切光场(126)。至少一个阵列检测器(114、116)被布置为检测第一剪切光场(124)和第二剪切光场(126)。处理器(118)被布置为处理至少一个阵列检测器(114、116)的输出信息，以确定与所述场景的高光谱图像相对应的数据立方体(128)。
基本信息
专利标题 ：
光学装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114341603A
申请号 ：
CN202080062452.6
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
罗宾·王彼得·诺里斯
申请人 ：
牛津大学创新有限公司
申请人地址 ：
英国牛津博特利
代理机构 ：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 ：
程钢
优先权 ：
CN202080062452.6
主分类号 ：
G01J3/36
IPC分类号 ：
G01J3/36 G01J3/02 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/30
直接从光谱本身测量谱线强度
G01J3/36
利用分开的检测器测试两个或更多的谱带
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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