用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学...
实质审查的生效
摘要

用于探测光学器件(22)的至少一个能在视觉上识别的特性(d、r、o、t)和至少一个光学特性(s、z)的组合探测器(16),其包括具有探测面(28)的图像传感器(26)和相位可视化元件(30),相位可视化元件被构造成用于将从入射方向(24)射入的输入光束(20″)转换成一个或多个输出光束(42),在其中,输入光束(20″)的空间相位分布是视觉上可见的。相位可视化元件(30)在此相对于图像传感器(26)的探测面(28)布置成使得一个或多个输出光束(42)仅落到探测面(28)的第一子区域(38)上,而探测面(28)的第二子区域(40)朝入射方向(24)暴露,用以探测不受相位可视化元件(30)影响的输入光束(20″)。用于检验光学器件(22)的相关的设备(2)包括用于产生测量光束(20)的光源(4)和上述的组合探测器(16)。

基本信息
专利标题 :
用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学器件的相关的检验设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114424040A
申请号 :
CN202080066372.8
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2020-09-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
于尔根·兰普雷希特约翰尼斯·普丰德
申请人 :
光科精密有限公司
申请人地址 :
德国埃尔朗根
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
潘小军
优先权 :
CN202080066372.8
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200921
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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