基于分块和低秩先验的发射率域热红外高光谱异常探测方法
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摘要

本发明涉及一种基于分块和低秩先验的发射率域热红外高光谱异常探测方法。首先对原始影像进行温度和发射率反演获取影像的发射率图和温度图,然后使用温度图和辐亮度图结合基于Potts的图像分割算法将发射率图分割成多个同质区域。据观察,在局部均匀区域,背景信号具有增强的低秩性,而异常表现为空间稀疏性。基于此观测,背景像素可以由一组基本背景信号进行低秩重构,而异常可以用稀疏残差表示。然后利用提取的背景端元对原始高光谱数据矩阵进行低秩稀疏矩阵分解,去除部分噪声,获取相比于原始影像更纯粹的背景信息。然后利用马氏距离结合原始发射率影像和背景信息计算异常和背景之间的光谱差异,实现异常和背景分离。

基本信息
专利标题 :
基于分块和低秩先验的发射率域热红外高光谱异常探测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112700437A
申请号 :
CN202110046688.7
公开(公告)日 :
2021-04-23
申请日 :
2021-01-14
授权号 :
CN112700437B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
王少宇朱绪鹤钟燕飞王心宇
申请人 :
武汉大学
申请人地址 :
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
代理机构 :
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王琪
优先权 :
CN202110046688.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T5/00  G06T7/194  G06F17/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-05-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20210114
2021-04-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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