基于深度学习的近场分布光度测量方法及装置
授权
摘要
本发明公开了一种基于深度学习的近场分布光度测量方法及装置,该方法包括:采集待重建光场多个角度的亮度图像组成亮度图像集,根据卷积神经网络架构搭建光通量测量深度神经网络模型、照度测量深度神经网络模型和空间光强测量深度神经网络模型,通过训练好的光通量测量深度神经网络模型、照度测量深度神经网络模型和空间光强测量深度神经网络模型进行光场重建,输出待重建光场的光通量测量矩阵、照度测量矩阵及空间光强测量矩阵。该方法能够解决传统近场分布式光度测量方法计算过程复杂耗时,测量效率低的问题,有效提升传统近场光度测量系统的全空间计算效率,实现对照明装置或光源的快速光场分布测量。
基本信息
专利标题 :
基于深度学习的近场分布光度测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112903093A
申请号 :
CN202110138378.8
公开(公告)日 :
2021-06-04
申请日 :
2021-02-01
授权号 :
CN112903093B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
曹良才李兵
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李岩
优先权 :
CN202110138378.8
主分类号 :
G01J1/00
IPC分类号 :
G01J1/00 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
法律状态
2022-04-08 :
授权
2021-06-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/00
申请日 : 20210201
申请日 : 20210201
2021-06-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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