一种基于谐波分量的电容位移检测非线性实时校准方法
授权
摘要

本申请涉及一种基于谐波分量的电容位移检测非线性实时校准方法,包括:获取电容式位移检测电路输出的位移检测信号,基于位移频率参数得到对应的谐波分量形式。获取位移检测信号的一次谐波分量和高次谐波分量的幅值,根据幅值之间的函数关系得到对应的非线性校准系数。使用非线性校准系数去除一次谐波分量中的非线性偏移项,得到对位移检测数据的实时校准结果。本申请利用电容式位移检测电路的输出中,一次和高次谐波的分量的幅值关系仅与电容式位移检测电路本身相关的特点,对位移检测结果中的非线性偏移量进行实时标定和去除,从而实现对电容式位移检测非线性的实时校准,具有适用范围广、校准效果好、实现方式简单等特点。

基本信息
专利标题 :
一种基于谐波分量的电容位移检测非线性实时校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113048871A
申请号 :
CN202110266417.2
公开(公告)日 :
2021-06-29
申请日 :
2021-03-11
授权号 :
CN113048871B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
肖定邦吴学忠孙江坤张勇猛余升席翔李青松卢坤石岩路阔
申请人 :
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址 :
湖南省长沙市开福区德雅路109号
代理机构 :
长沙国科天河知识产权代理有限公司
代理人 :
邱轶
优先权 :
CN202110266417.2
主分类号 :
G01B7/02
IPC分类号 :
G01B7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-05 :
授权
2021-07-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/02
申请日 : 20210311
2021-06-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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