一种用于测量磁性材料自旋极化率的方法
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摘要
本发明涉及一种用于测量磁性材料自旋极化率的方法，先利用原位洛伦兹透射电子显微镜测试技术测得磁性材料在脉冲电流Iexp作用下磁畴壁的实际运动速度vexp，再利用微磁学模拟计算出相同磁性材料的磁畴壁在完全自旋极化电流作用下Ithe下的理论运动速度vthe，再通过实际与理论之间的数据对比，即计算得出该磁性材料的自旋极化率P。对比传统利用同步辐射和磁圆二色性的自旋极化率测试方法，本发明更加简易、方便，对未来新型磁性材料的自旋极化率分析提供了更便捷的技术方法。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测量磁性材料自旋极化率的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113126010A
申请号 ：
CN202110295087.X
公开（公告）日 ：
2021-07-16
申请日 ：
2021-03-19
授权号 ：
CN113126010B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
车仁超张瑞轩裴科王龙圆张捷
申请人 ：
复旦大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区邯郸路220号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘燕武
优先权 ：
CN202110295087.X
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12 G01N27/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2021-08-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/12
申请日 : 20210319
申请日 : 20210319
2021-07-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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