一种测量三维拓扑绝缘体中电流诱导自旋极化的方法
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摘要

本发明涉及一种测量三维拓扑绝缘体中电流诱导自旋极化的方法。包括:制备Bi2Te3薄膜样品并在其上沉积矩形的钛金电极;将样品安装在真空杜瓦瓶中;激光器发出的光依次通过、衰减片、斩波器、起偏器、光弹性调制器以及透镜,以一定入射角照射在真空杜瓦瓶中样品两电极连线的中点;使用电流前置放大器给样品施加向电压和反向电压,通过锁相放大器分别提取出普通光电导电流和圆偏振光相关的光电流;通过公式计算得到某一个电压或电场下的圆偏振光电导差分电流,该圆偏振光电导差分电流的大小反映了电流诱导自旋极化的大小。本发明方法较为简单、快捷,便于日后推广。

基本信息
专利标题 :
一种测量三维拓扑绝缘体中电流诱导自旋极化的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113534021A
申请号 :
CN202110777060.4
公开(公告)日 :
2021-10-22
申请日 :
2021-07-09
授权号 :
CN113534021B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
俞金玲李金娴庄航程树英赖云锋郑巧
申请人 :
福州大学
申请人地址 :
福建省福州市闽侯县福州大学城乌龙江北大道2号福州大学
代理机构 :
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 :
陈明鑫
优先权 :
CN202110777060.4
主分类号 :
G01R33/032
IPC分类号 :
G01R33/032  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/032
采用磁—光设备,例如法拉第的
法律状态
2022-05-10 :
授权
2021-11-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/032
申请日 : 20210709
2021-10-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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