本发明涉及微压力探测技术领域，具体涉及一种拓扑绝缘体微压力探测装置，包括太赫兹源、太赫兹探测器、衬底、拓扑绝缘体层、凸起部、施压层，拓扑绝缘体层置于衬底上，凸起部设置在拓扑绝缘体层的表面，施压层设置在凸起部上，太赫兹源发射的太赫兹波穿过施压部，照射拓扑绝缘体层，太赫兹探测器探测拓扑绝缘体层反射的太赫兹波，通过反射太赫兹波的变化实现微压力探测。由于太赫兹波具有较高的穿透能力，本发明将感知装置和太赫兹源、太赫兹探测器分离，能够实现非接触式的微压力探测。另外，由于拓扑绝缘体层的表面态严重地依赖于表面的应力，所以本发明还具有压力探测灵敏度高的优点，在微压力探测领域具有良好的应用前景。