一种光场自旋角动量测量装置及方法
授权
摘要
本发明涉及光学测量技术领域，尤其涉及一种光场自旋角动量测量装置及方法。本发明的一种光场自旋角动量测量装置通过信号收集单元进行搜集得到光场的横向分量，自旋检测单元通过提取得到左旋偏振分量、右旋偏振分量，光电转换单元通过转换得到与左旋偏振分量对应的电压信号、与右旋偏振分量对应的电压信号，数据采集单元通过转换得到与左旋偏振分量对应的数字信号、与右旋偏振分量对应的数字信号，自旋角动量计算模块根据左旋偏振分量对应的数字信号、右旋偏振分量对应的数字信号进行计算，得到光场自旋角动量。本发明提取方法简单，避免了复杂的测量和计算过程，提高了光场自旋角动量的计算效率。
基本信息
专利标题 ：
一种光场自旋角动量测量装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110455406A
申请号 ：
CN201910673007.2
公开（公告）日 ：
2019-11-15
申请日 ：
2019-07-24
授权号 ：
CN110455406B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
杜路平
申请人 ：
深圳市深光谷科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区园山街道龙岗大道8288号大运软件小镇41栋3楼301
代理机构 ：
深圳中细软知识产权代理有限公司
代理人 ：
阎昱辰
优先权 ：
CN201910673007.2
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J4/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2019-12-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20190724
申请日 : 20190724
2019-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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