校准器、半导体装置及差分输入电路的校准方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及校准器、半导体装置及差分输入电路的校准方法。根据实施方式，一种半导体装置包括：差分输入电路，其适于接收分别输入至第一输入晶体管和第二输入晶体管的第一输入信号和第二输入信号，并输出输出信号；比较电路，其适于在校准模式下，通过将输出信号与第一比较电压进行比较来生成第一判断信号，并且通过将输出信号与第二比较电压进行比较来生成第二判断信号；偏移控制电路，其适于根据第一判断信号和第二判断信号调整粗略码和精细码；以及偏移调整电路，其适于根据粗略码以第一强度调整第一输入晶体管和第二输入晶体管各自的驱动能力，并且根据精细码以小于第一强度的第二强度调整第一输入晶体管和第二输入晶体管各自的驱动能力。
基本信息
专利标题 ：
校准器、半导体装置及差分输入电路的校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114430255A
申请号 ：
CN202110314520.X
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2021-03-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张砚棷
申请人 ：
爱思开海力士有限公司
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘久亮
优先权 ：
CN202110314520.X
主分类号 ：
H03F1/30
IPC分类号 ：
H03F1/30 H03F3/45
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03F 1/30
申请日 : 20210324
申请日 : 20210324
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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