一种符合计数方法、装置、符合计数设备及存储介质

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摘要

本发明涉及符合测量技术领域，公开了一种符合计数方法、装置、符合计数设备及存储介质，基于所述符合计数方法，可以基于二进制转换所得的比特流数据与符合门信号相结合的方法实现支持多通道并行符合的功能，并具有实现原理简单和符合速度较快等优点，利于通过最高单FPGA即可实现几百兆及几十通道的符合计数，并利于通过使用扩展方式实现上百通道符合并行处理。此外可使符合过程不需要依赖同步信号，并由于是使用比特流数据直接进行符合，相比较基于时间标签进行符合的技术方案，可减小运算量，提升了符合效率。

基本信息

专利标题：

一种符合计数方法、装置、符合计数设备及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113091897A

申请号：

CN202110335594.1

公开（公告）日：

2021-07-09

申请日：

2021-03-29

授权号：

CN113091897B

授权日：

2022-05-20

发明人：

张帅陈杰

申请人：

上海星秒光电科技有限公司;山东星秒光电科技有限公司

申请人地址：

上海市闵行区园文路28号321室

代理机构：

成都顶峰专利事务所(普通合伙)

代理人：

杨国瑞

优先权：

CN202110335594.1

主分类号：

G01J1/42

IPC分类号：

G01J1/42 G01J1/44 G06M1/10 G06M1/272