一种芯片标准符合度验证设备和方法

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

一种芯片标准符合度验证设备和方法，其包括自动化测试单元(2)，用于读取芯片参数数据，封装后下发给芯片；并在激活芯片端口后，读取激活芯片端口的各种性能参数，重新组织数据，对各种激活参数进行分析。参数存储单元(1)，用于存储芯片的各种性能参数。结果存储单元(3)，用于存储自动化测试单元(2)读取到的端口性能参数和自动化测试分析结果。其对不同厂家局端芯片和不同厂家终端芯片配合功能实现对相关标准符合度进行验证，投入产出比非常高。

基本信息

专利标题：

一种芯片标准符合度验证设备和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1863245A

申请号：

CN200510135396.1

公开（公告）日：

2006-11-15

申请日：

2005-12-31

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

王吉辉

申请人：

华为技术有限公司

申请人地址：

518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司

代理人：

郝庆芬

优先权：

CN200510135396.1

主分类号：

H04M3/30

IPC分类号：

H04M3/30