用于过渡族金属氧化物精细结构表征的电子能量损失谱学分析方...
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摘要

本发明公开了一种用于过渡族金属氧化物微结构表征的电子能量损失谱学分析方法,属于电子显微学分析技术领域。首先,利用透射电子显微镜获取过渡族金属氧化物中氧的电子能量损失谱,再对氧的电子能量损失谱的近边精细结构进行高斯函数拟合,获得材料中金属元素的价态信息。然后借助五次样条函数拟合,提取出氧的电子能量损失谱广延精细结构中的震荡信号,并对该震荡信号进行坐标变换、去噪、调幅处理。随后对处理后的震荡信号进行傅里叶变换,获得氧原子配位结构信息。综合金属元素价态信息和氧原子配位结构信息,最终得到完整关于过渡族金属氧化物微结构的定量信息。这种分析方法将有助于过渡族金属氧化物材料在催化和储能领域中的研究。

基本信息
专利标题 :
用于过渡族金属氧化物精细结构表征的电子能量损失谱学分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113406119A
申请号 :
CN202110488394.X
公开(公告)日 :
2021-09-17
申请日 :
2021-05-06
授权号 :
CN113406119B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
张炳森陈隽楠
申请人 :
中国科学院金属研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 :
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 :
于晓波
优先权 :
CN202110488394.X
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N23/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-31 :
授权
2021-10-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20210506
2021-09-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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