本发明一种排线限位板探针组合结构属于半导体测试技术领域；在该排线限位板探针组合结构中，转接探针与限位板之间设置有第一轴承，所述第一轴承的外圈与限位板过盈配合，限位板为绝缘材料板，所述第一轴承的内圈与转接探针过盈配合，在第一轴承的上方，依次设置有与第一轴承同轴的齿轮和第二轴承；排线包括外皮和芯线，所述外皮套在第二轴承的外圈上，所述芯线焊接在第二轴承的外圈上，芯线依次通过第二轴承的外圈、第二轴承的滚动体和第二轴承的内圈实现与转接探针短路；将本发明应用于同步或类同步测试的探针转接件及插座结构及关键结构中，能够实现对相同芯片进行同步或类同步测试，或对不同芯片进行类同步测试，节约重复性测试时间。