SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片
授权
摘要

本发明提供一种SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片,该方法包括:接收主CPU发送的认证请求;根据认证请求,对主CPU进行认证;若认证通过,发送认证成功指示至主CPU;接收主CPU发送的敏感调试命令;根据敏感调试命令,获取敏感状态信息;根据敏感状态信息,生成敏感调试结果,敏感调试结果包括加密的敏感状态信息以及第一校验信息;发送敏感调试结果至主CPU,以便主CPU获取解密的敏感状态信息,解密的敏感状态信息是对加密的敏感状态信息进行解密并对第一校验信息校验通过后获取的。本发明能够安全地获取SoC芯片内部敏感资源和安全固件敏感区域的执行状态。

基本信息
专利标题 :
SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113297091A
申请号 :
CN202110664480.1
公开(公告)日 :
2021-08-24
申请日 :
2021-06-18
授权号 :
CN113297091B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
张雷杜潘洋
申请人 :
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 :
天津市南开区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 :
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 :
孙峰芳
优先权 :
CN202110664480.1
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  G06F15/78  G06F21/44  G06F21/60  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-09-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20210618
2021-08-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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