一种芯片上电死机的调试系统及方法
授权
摘要
本发明公开了一种芯片上电死机的调试系统及方法，用于解决芯片上电死机时调试的可实现性，并且节约了调试成本。调试系统包括：引导引脚配置模块、调试多路选择模块、锁存模块及调试模块；引导引脚配置模块通过引导引脚与调试多路选择模块的控制端及锁存模块连接，锁存模块与调试模块连接；引导引脚配置模块用于在芯片发生上电死机进入调试模式时，配置引导引脚的电平信息，控制调试多路选择模块建立调试通路；锁存模块用于在芯片进行复位过程时，锁存引导引脚的电平信息；调试模块用于当芯片进入正常工作模式时，从锁存模块获取引导引脚的电平信息，根据引导引脚的电平信息确定调试通路。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片上电死机的调试系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111289885A
申请号 ：
CN202010150697.6
公开（公告）日 ：
2020-06-16
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN111289885B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
亓磊
申请人 ：
湖南国科微电子股份有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市长沙经济技术开发区泉塘街道东十路南段9号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘奕
优先权 ：
CN202010150697.6
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-07-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20200306
申请日 : 20200306
2020-06-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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