一种基于Web的芯片测试及调试系统
公开
摘要
本发明公开了一种基于Web的芯片测试及调试系统，包括调试芯片，所述调试芯片连接被测试芯片，所述调试芯片通过网络连接到Web浏览器，通过所述Web浏览器发送Http请求给调试芯片；所述调试芯片接收解析Web浏览器发送的Http请求，所述调试芯片解析Http请求并转化为JTAG命令下发至被测试芯片，所述被测试芯片执行JTAG命令并返回执行结果给调试芯片，所述调试芯片将执行结果转化为Html格式发送至网络并通过Web浏览器查看。本发明通过Web浏览器经网络连接调试芯片实现远程调试，实现多种型号的测试芯片的JTAG测试二进制码与测试命令的统一，适用于多种类型芯片的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种基于Web的芯片测试及调试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114579384A
申请号 ：
CN202210212787.2
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张欢
申请人 ：
管芯微技术（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区泗泾镇高技路205弄7号2层201室
代理机构 ：
上海科律专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
袁亚军
优先权 ：
CN202210212787.2
主分类号 ：
G06F11/263
IPC分类号 ：
G06F11/263 G06F11/273
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
G06F11/263
检验输入的产生，例如，检验向量、模或数列
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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