一种节约芯片管脚的调试电路及调试方法
公开
摘要
本发明提出了一种节约芯片管脚的调试电路及调试方法，所述调试电路包括选择电路、判断比较电路、译码器电路，首先在芯片的一个管脚外部连接一个选择电路，内部连接一个判断比较电路和译码器电路，然后通过选择电路将电源电压信号分为N个档位电压信号，并选择某一档位的档位电压信号输出给判断比较电路，判断比较电路将接收到的电压信号输出为N‑1个比较电压信号输出给译码器电路，译码器电路将接收到的N‑1个比较电压信号输出为N个模拟电压信号，实现了使用一个管脚实现N种调试模式，减小了芯片的封装尺寸，并根据调试模式对电路中参数进行优化，寻求到最优的配置，使芯片获得最佳性能。
基本信息
专利标题 ：
一种节约芯片管脚的调试电路及调试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114584130A
申请号 ：
CN202210484676.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-05-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
祝晓辉陶蕤张鹏陈盛文姚静石
申请人 ：
成都明夷电子科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区德华路333号谢威中心A座9层
代理机构 ：
成都君合集专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
尹新路
优先权 ：
CN202210484676.7
主分类号 ：
H03K19/003
IPC分类号 ：
H03K19/003 G01R31/28
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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