本发明公开了一种ZMD31050芯片的调试方法和批量调试系统，此方法包括步骤：首先使得ZMD31050芯片进入CM工作模式，采集ZMD31050芯片的端口2#在不同温度环境下的数字自动零补偿值；将上述不同温度环境下的数字自动零补偿值与不同点压力信号采集值系数作为动态链接库函数的输入，得到用于计算校准公式的系数；根据上述用于计算校准公式的系数与相关指令，得到当前被调试芯片的校验位；将用于计算校准公式的系数、校验位与相关发送指令来更新ZMD31050芯片的RAM中配置，使得ZMD31050芯片在NOM模式下的电压输出值发生改变，从而对ZMD31050芯片进行调试。本发明具有自动化程度高、批量调试且调试效率和精度高等优点。