一种基于双目多线结构光的铆钉齐平度测量方法
授权
摘要

本发明公开了一种基于双目多线结构光的铆钉齐平度测量方法,其测量工具主要为工业相机与多线结构光发射器,通过工业相机采集多线结构光光束与待测铆钉干涉形成的结构光光条图像,并对图像进行相应的处理、分析与计算后,即可实现铆钉齐平度的非接触式快速测量,本发明一种基于双目多线结构光的铆钉齐平度测量方法,能够取代传统的使用铆钉齐平度规等专用检具进行测量的模式,适用性更高,常用的点云扫描测量模式准备周期较长,前期需要大量时间用于扫描点云数据,与此相比本方法的测量效率更高,缩短了检测周期,实现了铆钉齐平度的在线测量。

基本信息
专利标题 :
一种基于双目多线结构光的铆钉齐平度测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113390357A
申请号 :
CN202110769778.9
公开(公告)日 :
2021-09-14
申请日 :
2021-07-08
授权号 :
CN113390357B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
李泷杲黄翔王德重李根周蒯孔盛杰季锐楼佩煌钱晓明宋允辉
申请人 :
南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院
申请人地址 :
江苏省南京市御道街29号
代理机构 :
苏州国卓知识产权代理有限公司
代理人 :
康进广
优先权 :
CN202110769778.9
主分类号 :
G01B11/14
IPC分类号 :
G01B11/14  B64F5/60  G06K9/32  G06K9/40  G06K9/44  G06K9/46  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2022-06-07 :
授权
2021-10-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/14
申请日 : 20210708
2021-09-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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