本发明公开了一种电子结构件冷热冲击测试方法及测试设备，包括底座板和一号测试盒，所述底座板的顶部设有组合滑槽，所述组合滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块的顶部安装有转盘，所述转盘的顶部安装有立杆，所述立杆的表面安装有两组对称布置的电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的尾端螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的底部安装有放置框，所述放置框远离电动伸缩杆的表面安装有对称布置的一号测试盒和二号测试盒。本发明通过设置有一号测试盒、二号测试盒，可对电子结构件接受冷热冲击测试时性能的具体状况予以检测分析，通过安装有检测板和试剂瓶，可通过观察试剂瓶内部溶液的颜色变化情况以及沉淀生成情况，判断电子结构件材料性能的好坏。