光学影像测量设备、方法、存储介质和终端
授权
摘要

本发明提供了一种光学影像测量设备、方法、存储介质和终端,属于光学影像测量领域,设备包括光学成像装置、主控装置和预标定装置;光学成像装置采用一组位移组件;主控装置与光学成像装置电性连接,用于接收预定焦距信息、发出调焦位移信息和采集图像信息;预标定装置包括自上而下依次设置的特征板和标定位调组件,测量前,获得光学成像装置与预标定装置的对应预标定信息,测量时仅需通过一组位移组件控制图像采集,并根据预标定信息,计算获得待测物的高度和图像放大倍率,实现单位移组件获得平面二维尺寸测量。本申请的测量设备,只需要一组位移组件,仅需对设备进行预标定即可,以此省去第二组位移组件,节省了成本,提高了测量效率。

基本信息
专利标题 :
光学影像测量设备、方法、存储介质和终端
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113532274A
申请号 :
CN202110789211.8
公开(公告)日 :
2021-10-22
申请日 :
2021-07-13
授权号 :
CN113532274B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
王志伟张祥谷孝东曹葵康蔡雄飞
申请人 :
苏州天准科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区科技城浔阳江路70号
代理机构 :
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 :
徐颖聪
优先权 :
CN202110789211.8
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-11-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20210713
2021-10-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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