本发明公开一种探针座，包括本体、支撑板、用于与待测试芯片接触的探针和动点接触探头，所述支撑板一端安装有一悬臂，另一端安装有所述动点接触探头，所述本体下端面一侧设置有一位于动点接触探头上部并与其对应的静点接触探头，所述悬臂远离支撑板一端固定有一安装有所述探针的探针座，一转接座安装于支撑板中部的上表面，一第一销轴两端分别位于前挡板和后挡板各自的第一通孔内；位于第一销轴右侧的支撑板部分、悬臂、探针座和探针的质心力矩大于位于第一销轴左侧的支撑板剩余部分、动点接触探头的质心力矩。本发明解决了现有技术中的存在的疲劳性导致的长期使用过程中测试数据不稳定性、不一致的问题。