用于光线跟踪的相交测试
公开
摘要
本发明公开了用于光线跟踪的相交测试。一种用于在光线跟踪系统中执行光线的相交测试的系统和方法。光线跟踪系统使用包括多个节点的分层加速结构，每个节点标识能够由光线相交的一个或多个元素。所述系统利用串行模式光线相交过程，其中，当光线与包围体积相交时，生成有限数目的新光线请求。
基本信息
专利标题 ：
用于光线跟踪的相交测试
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114331800A
申请号 ：
CN202111127771.3
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-09-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
D·巴纳德
申请人 ：
想象技术有限公司
申请人地址 ：
英国赫特福德郡
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
党晓林
优先权 ：
CN202111127771.3
主分类号 ：
G06T1/20
IPC分类号 ：
G06T1/20 G06T1/60 G06T15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T1/00
通用图像数据处理
G06T1/20
处理器架构; 处理器配置，例如 流水线
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
