用于光线跟踪的相交测试
公开
摘要
用于光线跟踪的相交测试。一种用于在光线跟踪系统中执行光线的相交测试的系统和方法。该光线跟踪系统使用包括多个节点的分层加速结构，每个节点标识用于相交测试的一个或多个元素。该系统定义并更新进度信息，所述进度信息针对光线标识分层加速结构的标识针对其尚不知道光线是否相交的元素的叶节点。
基本信息
专利标题 ：
用于光线跟踪的相交测试
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627229A
申请号 ：
CN202111499364.5
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
D·巴纳德
申请人 ：
想象技术有限公司
申请人地址 ：
英国赫特福德郡
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
王青芝
优先权 ：
CN202111499364.5
主分类号 ：
G06T15/06
IPC分类号 ：
G06T15/06 G06T1/20 G06T1/60
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T15/00
3D图像的加工
G06T15/06
光线跟踪
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
