一种光电跟踪仪跟踪精度测试装置与方法
公开
摘要
本发明公开了一种光电跟踪仪跟踪精度测试装置与方法，属于测试技术领域，本发明测试装置，包括光电跟踪仪、平行光管、空间光调制器、合束镜、光束整形系统、黑体辐射源、白光光源和工控机。本发明方法基于数字光处理技术的模拟目标生成方案可达到比传统方式更高的空间分辨率、更宽的速度和加速度测试范围；该测试装置可以实现折叠式设计，减小体积，利于测试系统的小型化；该测试装置可进行多个复杂的目标在多场景中的模拟；控制方式简单，且同步采集与控制技术的运用可以高精度测量跟踪精度。
基本信息
专利标题 ：
一种光电跟踪仪跟踪精度测试装置与方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114593725A
申请号 ：
CN202210117002.3
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-02-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
沈荣仁刘长明庄新港史学舜刘红波张鹏举
申请人 ：
中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请人地址 ：
山东省青岛市黄岛区香江路98号
代理机构 ：
青岛智地领创专利代理有限公司
代理人 ：
种艳丽
优先权 ：
CN202210117002.3
主分类号 ：
G01C21/00
IPC分类号 ：
G01C21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C21/00
导航；不包含在G01C1/001至G01C19/00组中的导航仪器
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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